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我们推测，ALD 涂层选择性地结合 Pt 纳米颗粒上的非对称位点，同时留下更具选择性的位点进行脱氢反应。
Micro CT（Micro Computed Tomography）也称为显微 CT，是一种高分辨率的微型计算机断层扫描成像技术，用于对微小物体进行非侵入式的三维成像和分析。它结合了 X 射线成像和计算机重建技术，可以提供非常详细的内部结构信息。其中台式显微CT是一种较小型的显微 CT 设备，它的技术原理与传统的 CT 类似，但具有更高的分辨率和更广泛的适用场景。
本文中，Zhongtao 等人以 CGO 为例，介绍了一种在不同气体氛围(氧气，氢/水混合气)下，随着升温过程，在环境透射电镜(ETEM) 中进行电化学阻抗谱分析的方法。
最近，Lilian Maria Vogl 等人介绍了一种无需湿法流程、系统且简便地制备高质量氧化铝纳米管的方法。作者通过使用自搭建的化学气相沉积(PVD)-原子层沉积(ALD)系统(如图1)制备纳米管，再对所得非晶态纳米管进行退火处理，最终所得氧化铝纳米管长径比大约 1200、最小壁厚小于 4 nm。随后，作者借助 DENS Wildfire TEM 原位加热样品杆进行 TEM 原位加热实验探究了整个制备过程，解释了纳米管的生长机制，探讨了制备高质量纳米管的影响因素。
由二氧化钛支撑的铂纳米颗粒(NPs)表现出金属-载体强相互作用(SMSI)，这可以诱导覆盖层的形成，以及该薄层支撑材料对纳米颗粒的封装。这种包覆改变了催化剂的性质，例如增加了它的化学选择性并稳定了它的烧结性能。包覆通常是在高温还原活化过程中诱导的，可以通过氧化处理逆转。然而，最近的研究结果表明，包覆层在氧气中是可以稳定的。
失效分析是对于电子元件失效原因进行诊断，在进行失效分析的过程中，往往需要借助仪器设备，以及化学类手段进行分析，以确认失效模式，判断失效原因，研究失效机理，提出改善预防措施。其方法可以分为有损分析，无损分析，物理分析，化学分析等。其中在进行微观形貌检测的时候，尤其是需要观察断面或者内部结构时，需要用到离子研磨仪+扫描电镜结合法，来进行失效分析研究。
